Descripción

• Preparación de muestras electrón-transparentes para microscopía electrónica de materiales y dispositivos.
• Nano-mecanizado mediante FIB de materiales y dispositivos.
• Preparación de muetras en forma de nano-agujas para análisis mediante tomografía electrónica y de sonda atómica (Atom Probe Tomography), así como para otras aplicaciones que requieran esta geometría de muestra.
• Manipulación de muestra de distintos materiales a escala micro y nanométrica, incluyendo cortes en el material por ataque iónico, deposiciones de carbono o platino, transferencia de porciones de material a rejillas, etc.
• Análisis de material mediante electrones secundarios y con el haz de iones.
• Análisis 3D por haces de iones de distribución de precipitados u otras inclusiones en materiales y dispositivos mediante reconstrucción tomográfica.
• Otras operaciones específicas que requieran el uso de haces de iones focalizados, definidas específicamente por el peticionario del servicio.
• Emisión de informes.

Capacidades y Recursos

• Personal especializado en la realización de los servicios ofertados.
• Equipo de haces de iones focalizados DUAL BEAM QUANTA 3D.