Procedimiento para medir parámetros reticulares de cristales de tamaños muy variables (desde nanómetros hasta milímetros) presentes en materiales monocristalinos y policristalinos, con alta precisión y exactitud a partir de diagramas de difracción de electrones recopilados en microscopios electrónicos de transmisión (TEM). Descripción En este trabajo se presenta una nueva metodología desarrollada en la UCA denominada […]
Método de determinación de parámetros reticulares de materiales cristalinos mediante difracción de electrones de alta resolución | entrada | 07/03/2018 | Procedimiento para medir parámetros reticulares de cristales de tamaños muy variables (desde nanómetros hasta milímetros) presentes en materiales monocristalinos y... |