Descripción Preparación de muestras electrón-transparentes para microscopía electrónica de materiales y dispositivos. Nano-mecanizado mediante FIB de materiales y dispositivos. Preparación de muetras en forma de nano-agujas para análisis mediante tomografía electrónica y de sonda atómica (Atom Probe Tomography), así como para otras aplicaciones que requieran esta geometría de muestra. Manipulación de muestra de distintos materiales […]
Servicio de Haces de Iones Focalizados (FIB) | entrada | 22/01/2018 | Descripción Preparación de muestras electrón-transparentes para microscopía electrónica de materiales y dispositivos. Nano-mecanizado mediante FIB de materiales y dispositivos. Preparación... |